Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://dspace.msu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/6788
Назва: | Optical tomography of non-crystalline films by interference enhanced Raman spectroscopy |
Автори: | Gerasimov, V. Герасимов, Віталій Вікторович Mitsa, V. Міца, В. Babinets, Yu. Бабинець, Ю. |
Ключові слова: | spectroscopy refractive index Raman spectrum Raman spectroscopy optical tomography спектроскопія показник заломлення Раманівський спектр Раманівська спектроскопія оптична томографія |
Дата публікації: | 1996 |
Видавництво: | УжНУ |
Короткий огляд (реферат): | The depth dependence of Raman spectra of a-GeS2 -type films having a different optical thickness (k/4 and k/2) and their refractive index profile have been investigated. The model of a layered-inhomogeneous structure of films has been proposed. There have been distinguished three regions: near-surface region (up to 50 As), central part and transition film-substrate region (up to 300 As). |
Опис: | Gerasimov V. Optical tomography of non-crystalline films by interference enhanced Raman spectroscopy / V. Gerasimov, V. Mitsa, Yu. Babinets // Fresenius J Anal Chem. - V. -355. -1996. - P.404–405 |
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://dspace.msu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/6788 |
Розташовується у зібраннях: | Статті |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
Optical_tomography_of_non-crystalline_films_by_interference_enhanced_Raman_spectroscopy.pdf | Optical tomography of non-crystalline films by interference enhanced Raman spectroscopy | 586.03 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.