Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://dspace.msu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/6788
Название: | Optical tomography of non-crystalline films by interference enhanced Raman spectroscopy |
Авторы: | Gerasimov, V. Герасимов, Віталій Вікторович Mitsa, V. Міца, В. Babinets, Yu. Бабинець, Ю. |
Ключевые слова: | spectroscopy refractive index Raman spectrum Raman spectroscopy optical tomography спектроскопія показник заломлення Раманівський спектр Раманівська спектроскопія оптична томографія |
Дата публикации: | 1996 |
Издательство: | УжНУ |
Краткий осмотр (реферат): | The depth dependence of Raman spectra of a-GeS2 -type films having a different optical thickness (k/4 and k/2) and their refractive index profile have been investigated. The model of a layered-inhomogeneous structure of films has been proposed. There have been distinguished three regions: near-surface region (up to 50 As), central part and transition film-substrate region (up to 300 As). |
Описание: | Gerasimov V. Optical tomography of non-crystalline films by interference enhanced Raman spectroscopy / V. Gerasimov, V. Mitsa, Yu. Babinets // Fresenius J Anal Chem. - V. -355. -1996. - P.404–405 |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://dspace.msu.edu.ua:8080/jspui/handle/123456789/6788 |
Располагается в коллекциях: | Статті |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Optical_tomography_of_non-crystalline_films_by_interference_enhanced_Raman_spectroscopy.pdf | Optical tomography of non-crystalline films by interference enhanced Raman spectroscopy | 586.03 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.